研究判明，結(jié)晶硅型太陽(yáng)能電池模塊長(zhǎng)時(shí)間暴露于高溫高濕環(huán)境下時(shí)，因封裝材料水解產(chǎn)生的醋酸會(huì)腐蝕印刷在太陽(yáng)能電池單元（發(fā)電元件）上的指狀銀電極，導(dǎo)致電極與硅界面的電阻升高。
因此，作為確認(rèn)指狀銀電極可靠性的加速試驗(yàn)方法，此前一直是將電池單元制成模塊，在溫度85℃、相對(duì)濕度85％的環(huán)境下進(jìn)行3000～5000小時(shí)的高溫高壓試驗(yàn)的。
產(chǎn)綜研稱(chēng)，將太陽(yáng)能電池單元直接暴露于醋酸蒸汽中，則很短時(shí)間內(nèi)就可看到與在高溫高壓環(huán)境下模塊上所觀測(cè)到的相同現(xiàn)象。劣化現(xiàn)象的發(fā)生速度約為在模塊上實(shí)施試驗(yàn)的原方法的70倍。
將這種現(xiàn)象應(yīng)用于加速試驗(yàn)，就能以70倍以上的速度容易地確認(rèn)太陽(yáng)能電池單元電極的可靠性了。
日經(jīng)BP社
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